試.jpg "硬度測(cè)試")
儀器.jpg "顯微鏡")
儀.jpg "質(zhì)構(gòu)儀、物性分析")
.jpg "橡膠制品測(cè)試")
機(jī).png "萬(wàn) 能試驗(yàn)機(jī)")
境試驗(yàn)箱.png "環(huán)境試驗(yàn)箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
量?jī)x.jpg "厚度測(cè)量")
量?jī)x/測(cè)厚儀-reseto-方.jpg "粗糙度儀")
測(cè)量機(jī)/x5.jpg "長(zhǎng)度測(cè)量")
測(cè)儀器.jpg "表面光學(xué)檢測(cè)")
測(cè)量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測(cè)量")
高阻雙電四探針測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
HT-371高阻雙電四探針測(cè)試儀
功能概述：
1. 可以測(cè)試到1010Ω方阻值.
2. 液晶顯示，高精度AD芯片控制.
3. 恒流輸出， 四探針雙位測(cè)量.
4. 參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn).
5. 中或英文語(yǔ)言版本.
應(yīng)用說(shuō)明：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試。
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等.
高阻雙電四探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
參數(shù)資料：
規(guī)格型號(hào) | HT-371A | HT-371B | HT-371C |
方塊電阻范圍 | 10-4～1×107Ω/□ | 10-4～1×109Ω | 10-4～1×1010Ω |
電阻率范圍 | 10-5～2×108Ω-cm | 10-5～2×1010Ω-cm | 10-5～2×1011Ω-cm |
測(cè)試電流范圍 | 10mA ---200pA | 10mA ---20pA | 10mA ---2pA |
電流精度 | ±2% | ±2% | ±5% |
電阻精度 | ≤10% | ≤10% | ≤15% |
顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
| ||
測(cè)試方式 | 組合雙電測(cè)試方法 | ||
工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W | ||
誤差 | ≤15% | ||
選購(gòu)功能 | 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái) | ||
測(cè)試探頭 | 探針間距選購(gòu)： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針 |
高阻雙電四探針測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)配置
高阻雙電四探針測(cè)試儀可選配件
高阻雙電四探針測(cè)試儀相關(guān)視頻
暫時(shí)不能提供，如需要詳細(xì)資料，請(qǐng)主動(dòng)與我們聯(lián)系。
高阻雙電四探針測(cè)試儀資料下載
暫時(shí)不能提供，如需要詳細(xì)資料，請(qǐng)主動(dòng)與我們聯(lián)系。
高阻雙電四探針測(cè)試儀相關(guān)產(chǎn)品
