試.jpg "硬度測(cè)試")
儀器.jpg "顯微鏡")
儀.jpg "質(zhì)構(gòu)儀、物性分析")
.jpg "橡膠制品測(cè)試")
機(jī).png "萬(wàn) 能試驗(yàn)機(jī)")
境試驗(yàn)箱.png "環(huán)境試驗(yàn)箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
量?jī)x.jpg "厚度測(cè)量")
量?jī)x/測(cè)厚儀-reseto-方.jpg "粗糙度儀")
測(cè)量機(jī)/x5.jpg "長(zhǎng)度測(cè)量")
測(cè)儀器.jpg "表面光學(xué)檢測(cè)")
測(cè)量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測(cè)量")
儀器/日本Nikon顯微鏡/方ECLIPSE Ci-POL 偏光顯微鏡.jpg)
偏光顯微鏡產(chǎn)品介紹
偏光顯微鏡ECLIPSE Ci-POL
緊湊靈巧，ECLIPSE Ci-POL是個(gè)人型偏光顯微鏡且無(wú)需占用您的整個(gè)桌面。具備尖端的CFI60光學(xué)系統(tǒng)，其提供出色的光學(xué)特性與友好的使用易用性。內(nèi)置的一鍵拍照按鈕就位于機(jī)身底座的前部，與尼康DS相機(jī)配合可實(shí)現(xiàn)一鍵拍照。
透射照明型
物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)使用與LV100N POL相同的DIN標(biāo)準(zhǔn)補(bǔ)償器插槽。因此可以使用各種補(bǔ)償器用于高級(jí)的定量測(cè)量。五個(gè)物鏡都可進(jìn)行對(duì)中。
標(biāo)準(zhǔn)中間筒整合勃氏鏡，可進(jìn)行觀察亦可進(jìn)行錐光與無(wú)畸變成像。
業(yè)內(nèi)廣受贊譽(yù)的CFI60無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，可同時(shí)具有長(zhǎng)工作距離與高NA值并可獲得銳利的無(wú)色差圖像。其私用環(huán)保玻璃制造無(wú)鉛砷等有害物質(zhì)
落射型物鏡來(lái)自 新研發(fā)的CFI60-2系列物鏡可以獲得任何倍數(shù)獲得銳利無(wú)色差的圖像。
CFI P Achromat 物鏡（用于透射照明）
CFI TU Plan Fluor P物鏡（用于落射照明）
? 對(duì)焦行程提升為30mm，可更方便用于高樣品觀察。
? 對(duì)焦上行限位機(jī)構(gòu)方便易用并可保證更換樣品時(shí)的安全性。
? 低成本優(yōu)勢(shì)結(jié)合高精密制造，使標(biāo)準(zhǔn)型的偏光顯微鏡同時(shí)具有絕佳日常性能。
透射式/落射式照明機(jī)型
使用LV-UEPI-N通用型落射照明裝置可同時(shí)具備透射與落射的偏光觀察能力。
標(biāo)配的落射照明使用高亮度50W鹵素?zé)簦峁┍?00W燈泡更亮的照明。借助噪聲消除裝置可獲取高信噪比的銳利圖像。
偏光顯微鏡技術(shù)參數(shù)
偏光顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)配置
配置 | ||
序號(hào) | 名稱(chēng) | 數(shù)量 |
1 | 主機(jī) | 1 |
2 | 物鏡 | 1 |
3 | 底座 | 1 |
4 | 光學(xué)系統(tǒng) | 1 |
5 | 照明裝置 | 1 |
6 | 對(duì)焦裝置 | 1 |
偏光顯微鏡可選配件
偏光顯微鏡相關(guān)視頻
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偏光顯微鏡資料下載
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