境試驗箱.png "環(huán)境試驗箱")
測儀器.jpg "表面光學檢測")
三離子束切割儀產(chǎn)品介紹
新版 EM TIC 3X 恪守我們的格言：與用戶合作，使用戶受益”，以注重實用性的方式將性能和靈活性理想融合。
最新的 EM TIC 3X 切割速度翻倍，根據(jù)您的應用需求提供五種不同的載物臺供您選擇，實用性得到進一步提升。
產(chǎn)品特點:
可復制的結(jié)果
Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可制備橫切面和拋光表面，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。
使用 Leica EM TIX 3X，您幾乎可以在室溫或冷凍條件下，對任何材料實現(xiàn)高品質(zhì)的表面處理，盡可能顯示樣品近自然狀態(tài)下的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。帶來前所未有的便利！
1：SiC 研磨紙的橫切面 2：膠合板的橫切面
3：-120°C 條件下制備的同軸聚合物纖維 (溶于水)
4：通過 Leica EM TIC 3X (配旋轉(zhuǎn)載物臺) 處理展現(xiàn)的油頁巖 (納米孔)，總樣品直徑為 25 mm
效率
對于離子束研磨機的效率來說，真正重要的是同時具備出色的品質(zhì)結(jié)果和高產(chǎn)量。與前代版本相比，全新版本不僅切割速度提高了一倍，其獨特的三離子束系統(tǒng)還優(yōu)化了制備質(zhì)量，并縮短了工作時間。一次可處理樣品多達 3 個， 并可在同一個載物臺上進行橫切和拋光。
工作流程解決方案可安全、高效地將樣品傳輸至后續(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng)。
靈活的系統(tǒng) — 隨時滿足您的需求
憑借可靈活選擇的載物臺，Leica EM TIC 3X 不僅是進行高產(chǎn)量處理的理想設(shè)備，還適用于委托檢測的實驗室。根據(jù)您的需求，可選擇以下可互換的載物臺對 Leica EM TIC 3X 進行個性化配置：
標準載物臺
多樣品載物臺
旋轉(zhuǎn)載物臺
冷卻載物臺或
真空冷凍傳輸對接臺
用于制備標準樣品、高產(chǎn)量處理，以及在低溫條件下制備對高溫異常敏感的樣品，例如聚合物、橡膠或生物材料。
環(huán)境控制型工作流程解決方案
憑借與 Leica EM TIC 3X 配套的 VCT 對接臺接口，可為易受環(huán)境影響的樣品和/或低溫樣品提供出色的刨平工作流程，此類樣品包括
生物材料，
地質(zhì)材料
或工業(yè)材料。
隨后，這些樣品會在惰性氣體/真空/冷凍條件下，被傳輸至我們的鍍膜系統(tǒng) EM ACE600 或 EM ACE900 和/或 SEM 系統(tǒng)。
標準的工作流程解決方案 — 與 Leica EM TXP 產(chǎn)生協(xié)同效應
在使用 Leica EM TIC 3X 之前，通常需要進行機械準備工作，以便盡可能接近感興趣區(qū)域。Leica EM TXP 是一種獨特的標靶面拋光系統(tǒng)，開發(fā)用于樣品的切割和拋光，為 Leica EM TIC 3X 等儀器進行后續(xù)技術(shù)處理做好充分準備
Leica EM TXP 經(jīng)專業(yè)設(shè)計，利用鋸切、銑削、研磨和拋光技術(shù)對樣品進行預制。 對于需要精準定位以及難以制備的挑戰(zhàn)性樣品，它能提供出色的結(jié)果，令處理變得輕松簡單。
三離子束切割儀技術(shù)參數(shù)
三離子束切割儀標準配置
三離子束切割儀可選配件
三離子束切割儀相關(guān)視頻
暫時不能提供，如需要詳細資料，請主動與我們聯(lián)系。
三離子束切割儀資料下載
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三離子束切割儀相關(guān)產(chǎn)品
