儀器.jpg "顯微鏡")
.png "萬 能試驗機(jī)")
境試驗箱.png "環(huán)境試驗箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
測量機(jī)/x5.jpg "長度測量")
測儀器.jpg "表面光學(xué)檢測")
測量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測量")
三維成像場發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品介紹
三維成像場發(fā)射掃描電鏡VolumeScope 2 SEM產(chǎn)品介紹：
連續(xù)切片成像與多能量反卷積重構(gòu)相結(jié)合，使得SEM對樣品實現(xiàn)大體積成像
在自然背景下揭示細(xì)胞和組織的復(fù)雜三維結(jié)構(gòu)對生物學(xué)和軟材料的結(jié)構(gòu)與功能關(guān)系的研究至關(guān)重要。
連續(xù)切片SEM（SBF-SEM）是在掃描電鏡的真空艙中對塑料包埋的組織進(jìn)行原位切片和成像，可實現(xiàn)大體積組織的自動3D重構(gòu)，繼而完成大體積分析。
一直以來軸向分辨率都會受到最小切片厚度的限制，現(xiàn)在通過多能量反卷積技術(shù)可以實現(xiàn)各方向相同的分辨率。
通過使用金剛刀對樣品進(jìn)行原位切片后，可以通過不斷增大電壓對新鮮的切面組織進(jìn)行多次成像，這些圖像隨后會進(jìn)行反卷積計算，從而生成多個亞表層圖像構(gòu)成三維圖像的子集。
通過重復(fù)這個循環(huán)，Volumescope 2 SEM掃描電鏡可以獲取10nm Z軸分辨率的各向同性數(shù)據(jù)集。
揭示聚合物的微觀結(jié)構(gòu)
3D高分辨成像對了解聚合物材料的微觀結(jié)構(gòu)和特性至關(guān)重要。Volumescope 2 SEM掃描電鏡在樣品倉中將聚合物的原位切片與SEM成像全自動地結(jié)合在一起，實現(xiàn)了真正的大體積樣品三維重構(gòu)過程中的各方向分辨率的一致性。通過大體積樣品的可視化可以揭示不同微觀結(jié)構(gòu)對影響材料的整體特性的重要性。例如Volumescope 2 SEM可以重構(gòu)具有代表性的大體積濾膜樣品，獲取準(zhǔn)確的傳輸特性模型，從而提升對新一代濾膜性能預(yù)測的準(zhǔn)確性。
Volume scope 2 3D SEM掃描電鏡的主要特點(diǎn)
簡單易用的技術(shù)
通過簡單易操作的技術(shù)對實驗進(jìn)行控制?？梢灾貜?fù)調(diào)用工作與系統(tǒng)設(shè)置，在采集過程中可以生成多個感興趣區(qū)域。
在采集過程中可視化與導(dǎo)航
在采集期間可以利用Thermo Scientific Amira Live Tracker軟件進(jìn)行可視化和導(dǎo)航，優(yōu)化/控制結(jié)果。進(jìn)行無人值守的大體積三維數(shù)據(jù)采集和重構(gòu)。
保護(hù)珍貴樣品
對一系列廣泛的樣品類型在每個采集步驟都有驗證過的解決方案；對于容易荷電的樣品可使用低真空探測器進(jìn)行成像。
輕松快速更換顯微切片機(jī)
輕松快速地更換顯微切片機(jī)，可以通過使用Thermo Scientific Maps軟件實現(xiàn)自動斷層掃描。
三維成像場發(fā)射掃描電鏡技術(shù)參數(shù)
三維成像場發(fā)射掃描電鏡VolumeScope 2 SEM規(guī)格參數(shù)：
電子光學(xué)系統(tǒng)
高分辨率場發(fā)射 掃描電鏡鏡筒
高穩(wěn)定性肖特基場發(fā)射槍
復(fù)合末端透鏡：靜電、無漏磁、浸沒式磁透鏡復(fù)合透鏡
兼具電磁透鏡和靜電透鏡的雙物鏡
離子源壽命
24 個月
自動化
自動烘烤
自動啟動
無需機(jī)械對中
自動加熱光闌
用戶指導(dǎo)和鏡筒預(yù)設(shè)功能
載物臺
雙載物臺掃描偏轉(zhuǎn)
電子束
連續(xù)電子束電流控制和優(yōu)化光闌
束流范圍：1 pA 至 400 nA
在連續(xù)切片成像 SEM 中：50 pA – 3.2 nA
著陸能量范圍：20 eV – 30 keV
加速電壓范圍：200 V – 30 kV
在連續(xù)切片成像 SEM 中：500 V – 6 kV
常規(guī) SEM 高真空成像最佳工作距離下的分辨率
在 30 keV STEM 下為 0.8 nm
在 15 keV 下為 0.7 nm
在 1 keV 下為 1.0 nm
樣品倉
內(nèi)寬：340 mm
分析工作距離：10 mm
端口：12
探測器
連續(xù)切片成像探測器
T1 鏡筒內(nèi)低位探測器
VS-DBS：低真空背散射電子探測器
T2 鏡筒內(nèi)中位探測器
Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD)
IR-CCD
低真空二次電子檢測器
STEM 3+ 分割式伸縮型探測器測器
提供額外檢測器
真空系統(tǒng)
完全無油的真空系統(tǒng)
1 × 220 l/s TMP
1 × PVP-scroll
2 × IGP
樣品倉真空（高真空）<6.3 × 10-6 mbar（泵工作 72 小時后）
低真空模式高達(dá) 50 Pa，可對不導(dǎo)電樣品進(jìn)行電荷補(bǔ)償
抽真空時間：≤3.5 分鐘
樣品臺
標(biāo)準(zhǔn)多功能樣品臺；以獨(dú)特方式直接安裝在載物臺上；容納多達(dá) 18 個標(biāo)準(zhǔn)樣品托（直徑 12 mm）、三個預(yù)傾斜樣品托、兩個垂直和兩個預(yù)傾斜樣品臺
每個可選排桿能容納 6 個 S/TEM 載網(wǎng)
晶圓及定制樣品臺
三維成像場發(fā)射掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)配置
三維成像場發(fā)射掃描電鏡可選配件
三維成像場發(fā)射掃描電鏡相關(guān)視頻
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三維成像場發(fā)射掃描電鏡資料下載
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三維成像場發(fā)射掃描電鏡相關(guān)產(chǎn)品
儀器/日本Nikon顯微鏡/方JCM 6000臺式電子掃描顯微鏡.jpg "臺式電子掃描顯微鏡")
