儀器.jpg "顯微鏡")
.png "萬 能試驗機(jī)")
境試驗箱.png "環(huán)境試驗箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
測量機(jī)/x5.jpg "長度測量")
測儀器.jpg "表面光學(xué)檢測")
測量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測量")
三維X射線測量系統(tǒng)產(chǎn)品介紹
基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描（CT）
利用蔡司的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標(biāo)準(zhǔn)的驗收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺，滿足客戶對精度的高要求。
利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測量任務(wù)
測量與檢驗整體部件
ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測
利用 ZEISS METROTOM 計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精準(zhǔn)，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。
直觀簡易的軟件操作
僅需通過短時間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。利用 ZEISS CALYPSO 可評估 CT 數(shù)據(jù)，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。
三維X射線測量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
三維X射線測量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置
三維X射線測量系統(tǒng)可選配件
三維X射線測量系統(tǒng)相關(guān)視頻
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三維X射線測量系統(tǒng)資料下載
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三維X射線測量系統(tǒng)相關(guān)產(chǎn)品
測量機(jī)/Zeiss/MMZ G.jpg "<strong>三坐標(biāo)測量機(jī)</strong>")
MMZ-G產(chǎn)品線的大型橋式測量機(jī)具備卓越的性能滿足高需求的測量：其提供了所有蔡司測量機(jī)中大型測量范圍，以及出色的精度。這使得這種測量機(jī)極其適合測量大型零件
測量機(jī)/Zeiss/MMZ T.jpg "三坐標(biāo)測量機(jī)")
MMZ T 帶平臺橋式三坐標(biāo)測量機(jī)測量范圍和精度的完美結(jié)合,適合大型齒輪測量。有著14.8 m3測量范圍的MMZ T產(chǎn)品線，是蔡司的一款帶平臺橋式三坐標(biāo)測量機(jī)。它適合直接在車間進(jìn)行大型齒輪的高精度測量。開放式的設(shè)計允許使用起重機(jī)輕松裝卸零件。防止碰撞的起重機(jī)聯(lián)鎖裝置也是標(biāo)準(zhǔn)配置。
測量機(jī)/Zeiss/METROTOM.jpg "三維X射線測量系統(tǒng)")
METROTOM三維X射線測量系統(tǒng)利用蔡司的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標(biāo)準(zhǔn)的驗收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺，滿足客戶對精度的高要求。
測量機(jī)/Zeiss/VoluMax.jpg "斷層掃描系統(tǒng)")
VoluMax斷層掃描系統(tǒng)是利用工業(yè)計算機(jī)斷層掃描測量技術(shù)進(jìn)行在線過程控制, 專為快速檢測大量工件的應(yīng)用需求而設(shè)計的?？稍谏a(chǎn)過程中 100% 檢驗已加工的塑料部件和輕量化金屬組件–即使在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境中也是如此。該 CT 掃描機(jī)會自動輸出測量結(jié)果是否合格，進(jìn)而挑出異常的工件。進(jìn)行 CT 連續(xù)檢測過程中，系統(tǒng)可以捕獲及儲存大量不同的產(chǎn)品特征。
